測量?jì)x器常見(jiàn)問(wèn)題
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影像測量?jì)x如何測量易變形工件
來(lái)源： 發(fā)布時(shí)間：2023-08-03 16:16:12
對于工件的測量無(wú)非有兩個(gè)重要步驟，即測量?jì)x器的選擇和測量方法的應用。在工件測量中，最難測量的工件非易變形工件莫屬，尤其是經(jīng)過(guò)微加工的精密零件的測量，這一直以來(lái)都是一個(gè)難題。光學(xué)測量系統具有測量速度快、不會(huì )引起零件變形等有點(diǎn)，但其也有一定局限性，如工件的可見(jiàn)邊緣往往無(wú)法反映其后被遮擋部分的情況，光學(xué)測量系統通常不能確定諸如平行度、垂直度、圓柱度、平面度等三維形狀位置精度等。
然而，復合式影像測量?jì)x支持復合傳感系統：光學(xué)傳感器、觸發(fā)式測頭和掃描測頭（LSP-X1）,TTL激光和具有創(chuàng )新意義的白光傳感器。復合式影像測量?jì)x可以完成在一次安裝中對復雜零件的所有關(guān)鍵參數的測量。
一、光學(xué)傳感器
無(wú)需接觸那些精密的被測特征，避免采用機械接觸而引起的變形。
二、接觸式觸發(fā)傳感器
提供了探針更換架，可根據不同的測量特征進(jìn)行探針更換，而不需要校正。對于球體、椎體、圓柱體等三位特征和所有不能由光學(xué)測量識別的元素采用接觸式傳感器是合適的方案。工件只需一次裝夾，上表面采用光學(xué)傳感器測量，側面或下表面特征則采用接觸式測量。接觸式傳感器海配置有自動(dòng)旋轉測座。
三、白光傳感器（CWS）
optiv復合式影像測量?jì)x所采用的白光傳感器是極高分辨率的測量傳感器，能夠實(shí)現在微米級范圍內的測量，解決工件表面反光的測量難題，可獲取微觀(guān)結構的形狀、實(shí)現反光表面的數字化（如玻璃、拋光金屬）、實(shí)現透明材料的數字化。
觸發(fā)式掃描測頭LSP-X1不僅可進(jìn)行標準的單點(diǎn)觸發(fā)測量，還可以警醒高精度連續掃描，實(shí)現高速、高精度尺寸與形狀的測量，自定心等測量。并且可以測量非接觸探測裝置不能到達的位置，如深的階梯孔。
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